Elektronische Lasten bis 800 V
14.12.2011Schulz-Electronic hat mit der Serie PLI eine neue Generation elektronischer Lasten des Herstellers Höcherl & Hackl präsentiert. Die Geräte basieren auf der Technik der PL-Serie, bieten jedoch ein neues Bedienkonzept mit graphischer Benutzerschnittstelle [mehr]
PXI-Schaltsysteme mit hoher Kanaldichte
08.12.2011Insbesondere für automatische Testsysteme mit einer großen Anzahl an Kanälen hat National Instruments seine Produktfamilie SwitchBlock um acht Relaiskarten erweitert. Darunter befinden sich mehrere Zweidrahtschaltungen für differentielle Messungen und Schaltungen mit 16 Zeilen [mehr]
Kundenspezifische Datenerfassungssysteme
06.12.2011Mit der Reihe X-Plorer stellt measX eine neue Produktlinie vor, die in robusten Koffergehäusen komplette DAQ-Systeme bietet. Die wasserdichten Koffer stehen abhängig von der gewünschten Ausstattung in 22 Abmessungen zur Verfügung [mehr]
Ethernet-Controller für den Leiterplattentest
02.12.2011Für seine Embedded-Instrumentierungs-Plattform ScanWorks bietet Asset InterTech den RIC-4000 an, der die Durchführung von Boundary-Scan-Tests auf vier Leiterplatten gleichzeitig ermöglicht. [mehr]
1500 V im Funktionstest
01.12.2011Nach den Stimulierungsmatrixkarten für Spannungen bis 500 V hat Reinhardt mit der HSM 670 eine 16-kanalige Hochspannungsstimulierungsmatrix vorgestellt, die den Bereich bis 1500 V abdeckt. [mehr]
Günstiger Spektrumanalysator
23.11.2011Als Nachfolger des HM5510 hat Hameg den Spektrumanalysator HMS1000E vorgestellt. Das Gerät mit einem Frequenzbereich von 100 kHz bis 1 GHz basiert auf der Plattform der HMS-Serie
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Rigol-Oszilloskope mit bis zu 500 MHz
21.11.2011Meilhaus vertreibt die Oszilloskop-Familie DS4000 von Rigol, zu der acht Modelle mit Bandbreiten zwischen 100 und 500 MHz gehören. Die Oszilloskope mit zwei bzw. vier analogen Kanälen erreichen Abtastraten von bis zu 4 GS/s. [mehr]
Kombiniertes Incircuit- und Funktionstestsystem
21.11.2011Maximal 608 Messkanäle. Für den Serientest von elektronischen Flachbaugruppen hat Reinhardt das Incircuit- und Funktionstestsystem ATS-UKMFT 627 vorgestellt. Es bietet im Grundausbau 32 bidirektionale Logikkanäle, 32 Multimatrixkanäle und 128 Incircuit-/Funktionsmesskanäle [mehr]
Schneller Digitizer mit acht Kanälen
18.11.2011Vor allem für Großexperimente in der angewandten Physik hat Agilent einen achtkanaligen 12-Bit-Digitizer vorgestellt. Der zum AXIe-Standard konforme M9703A belegt nur einen Steckplatz [mehr]
Robuste Datenlogger
17.11.2011Plug-In bietet die Datenlogger der von dataTaker entwickelten Serien DT80 und DT85 an. Diese verfügen über Analogkanäle für Thermoelemente, Widerstandstemperatursensoren, Thermistoren, Halbleitersensoren, Spannung und Strom. [mehr]
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Eine kompakte Maßnahme
Je größer die Spannungskluft zwischen dem Systembus und den Eingängen von Prozessoren und FPGAs, umso höher ist das Risiko, die Logikbausteine bei Überspannung zu beschädigen. Wo herkömmliche Schutzvorkehrungen zu langsam reagieren, kann ein neuer Ansatz helfen: Mit der Kombination aus DC/DC-Abwärtsregler und wirksamen Fehlerschutzschaltungen sind Versorgung und Schutz für moderne Logikkomponenten nun in einem einzigen Bauteil untergebracht.
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Messgeräte und viel mehr
Jörg Fries, Fachgebietsleiter Oszilloskope, über sein Aufgabengebiet, dessen Perspektiven und die Karrierechancen beim Münchner Messtechnikspezialisten Rohde & Schwarz
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Verkleinerung mit Tücken
Elektronische Geräte, die immer kompakter werden und trotzdem immer mehr können, sind nur dann möglich, wenn auch die verbauten Komponenten stark schrumpfen. Die Komplexität konventioneller Quarze wird dabei häufig unterschätzt; ihre Miniaturisierung ist für die Hersteller eine erhebliche Herausforderung.
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